场发射透射电子显微镜(组)
发布人:时间:2020-10-12浏览:
|
|
设备(组)中文名称 |
场发射透射电子显微镜(组) |
主设备品牌或厂商 |
赛默飞世尔科技公司 |
主设备规格型号 |
FEI TalosF200S |
设备(组)总价(万元) |
895.58 |
存放位置 |
J5-110 |
所属二级单位 |
自动化学院 |
主要技术指标:加速电压: 200 KV;肖特基热场发射超亮电子枪; TEM点分辨率:0.25 nm; TEM信息分辨率: 0.12 nm; STEM分辨率: 0.16 nm;能谱能量分辨率:136 ev。 |
应用服务范围:可对各种材料内部微结构进行观察;粉末、纳米颗粒形貌和粒径观察;选区电子衍射和晶体结构分析;金属、陶瓷、半导体、塑料、等显微结构分析;配合能谱仪可以对样品元素做面分布分析,以及各种元素进行定性和半定量微区分析,元素检测范围:B~U元素。 |
上一条:核磁共振波谱仪(组)
下一条:电池生产系统(组)