主要技术指标：电子枪：肖特基热场发射 ，TEM点分辨率：0.25nm ，TEM信息分辨率: 0.12 nm ，STEM分辨率: 0.16 nm。可同时采集4X幅来自不同角度的电子信号，明场 (BF)，环形明场(ABF)，环形暗场(ADF)和大角度环形暗场(HAADF)的图像。
|
应用服务范围：对各种材料内部微结构进行观察，粉末、纳米颗粒形貌和粒径观察， 选区电子衍射和晶体结构分析， 金属、陶瓷、半导体、塑料、等显微结构分析， 配合能谱仪可以对样品元素做面分布分析，以及各种元素进行定性和半定量微区分析， |